DFT Compiler的学习------part7 DFTMAX

DFTMAX的核心就是adaptive scan技术。所谓的adaptive scan类似于边界扫描，不同的是在chip扫描信号和内部多个扫描链之间插入压缩和解压缩逻辑。目的就是为了减少测试的时间和测试的数据。

1.使能adaptive scan
在set_dft_configuration的选项里面有一个scan_compression，将其enable，就可以了。这样在使用insert_dft的时候，就会产生两种测试的模式，一种是scan compression模式，扫描单元由压缩单元进行驱动，一种是internal scan模式，扫描单元由外部信号进行驱动。

2.多种测试模式的支持。
上面提到在使用scan_compression的时候，会产生两种测试的模式。当然也可以自定义test mode。使用命令define_test_mode mode_label -usage mode_usage。mode_usage可以为scan或者为scan_compression。

3.如果设置扫描链的个数。
在scan的test mode下，可以使用set_scan_configuration -chain_count X来设置，在scan compression 的mode 下，可以使用set_scan_compression_configuration -minimum_compression x来设置（默认为10）。得到的chain的个数为chain_count*comp*1.2

4.test mode的信号设置
在使用adaptive scan的时候，需要插入一个test mode 信号，用来选择是压缩的模式还是基本的模式。在使用autofix的时候，也需要一个test mode，用来选择是否使能修复逻辑。这两个test mode不能共用一个port。